गुणवत्ता परीक्षण

इलेक्ट्रॉनिक घटक परीक्षण प्रक्रियाएँ

  • test01

    लेबल और पैकिंग का पता लगाना

  • test02

    एक्स-रे परीक्षण, RoHs परीक्षण, आदि जैसे उच्च-स्तरीय उपकरणों के साथ उन्नत निरीक्षण।

  • test03

    ग्राहक के अनुरोध पर व्हाइट हॉर्स और जीईटीएस टेस्ट का समर्थन किया जाता है।

परीक्षण उपकरण

Dasenic प्रासंगिक परीक्षण मानक के अनुसार विभिन्न इलेक्ट्रॉनिक घटकों का परीक्षण करने के लिए पेशेवर टीम और उच्च-स्तरीय परीक्षण उपकरणों से सुसज्जित है।

External-Visual

बाह्य दृश्य निरीक्षण

निरीक्षण करें कि क्या चिप बिल्कुल नई है, नवीनीकृत है, और क्या पिन टिन से लेपित हैं, ऑक्सीकृत हैं, आदि।
x-ray-inspection

X-ray निरीक्षण

धातु सामग्री, प्लास्टिक सामग्री और इलेक्ट्रॉनिक घटकों में आंतरिक दरारों और खामियों का पता लगाना।
Lead-Free-Test

सीसा रहित परीक्षण

चिप सीसा रहित है या नहीं इसका विश्लेषण करने के लिए नमूना पिन और सतह सामग्री का परीक्षण करें।
4k-ultra

4K अल्ट्रा-हाई एक्यूरेसी माइक्रोस्कोप

हाई-डेफ़िनिशन इमेजिंग से सूक्ष्म आकृतियों और असमान सतहों या दागों का निरीक्षण करना संभव हो जाता है।
MOSFET-Inspection

MOSFET निरीक्षण

उपयोग करने से पहले MOSFET की गुणवत्ता का परीक्षण करने से पूरे सर्किट को नुकसान से बचाया जा सकता है और अन्य इलेक्ट्रॉनिक घटकों की सुरक्षा की जा सकती है।

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